2010年4月15日，天美公司與上海市納米技術協會共同舉辦了掃描探針顯微鏡最新技術與納米生物領域最新應用的研討會。
    此次研討會的參會單位主要包括上海交通大學、上海同濟大學、上海大學、華東師范大學、華東理工大學和上海第九人民醫院等，其中，上海市納米技術協會秘書長魏順康老師為研討會致辭，表達了對天美公司舉辦此次研討會的支持與歡迎。
    本次研討會，天美公司邀請了美國Park Systems公司的王博士做了關于掃描探針顯微鏡最新技術和在納米加工以及納米生物領域的最新應用方面的報告。此次報告從掃描探針顯微鏡的歷史背景談 起，細致介紹了目前最先進的減弱震波的平板式壓電陶瓷閉環掃描器與傳統式管式掃描的先進性與精確性，從而引出真正非接觸模式在納米薄膜材料研究、高分子材 料研究、化學化工研究、粘附性強樣品和軟樣品研究以及生物領域研究的優越性。由于PARK-AFM的三軸分開的平板式掃描器設計和Z掃描器的高速伺服反饋 控制，使PARK-AFM在納米加工領域的一個全新的應用—聚合物筆刻蝕（PPL）功能，它可同時在同一基底上刻蝕出成千上萬個圖形。另外在生物研究領 域，PARK-AFM的掃描離子電導顯微鏡功能（SICM）給生物活體細胞的研究帶來了一個全新的解決方案。王博士與參會的各位老師和研究生進行了實際應 用中的一些問題探討。
    此次研討會充分展示了PARK-AFM在納米檢測領域的最新技術和應用水平，同時也得到了參會的各位老師與研究者的認可。借此機會感謝上海市納米中心的大力支持和各位參會老師的踴躍參與。